光応用技術シンポジウム（Senspec2017）「最新の光応用計測」

概要

日時

2017年6月8日（木）10：00～15：35

場所

パシフィコ横浜 展示会場 ハーバーラウンジB（〒220-0012　神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1）

プログラム

1．「イントロダクトリートーク　三次元計測の基礎」新井泰彦（関西大学）
2．「ライトフィールド技術の基礎」岩根 透（ニコン）
3．「複眼画像技術の基礎」堀崎遼一（大阪大学）
4．「光コヒーレンストモグラフィの基礎」岩井俊昭（東京農工大学）
5．「超解像顕微鏡の基礎」川田善正（静岡大学）
6．「偏光計測の基礎」川畑州一（東京工芸大学）
7．「分光計測の基礎」田所利康（テクノ・シナジー）
8．「クロージング・リマークス」大谷幸利（宇都宮大学）

参加費

7,000円（テキスト1部含）当日，受付にて現金で支払う。

お申し込み方法

下記より申し込む。
https://www.adcom-media.co.jp/form/senspec/join/