第388回講習会 研究室見学付き基礎講座「精密光計測の基礎－干渉から光コムまで－」

概要

日時

2017年7月21日（金）10：00～17：40

場所

東京工業大学 大岡山キャンパス 大岡山西8号館E棟 10階大会議室（〒152-8550　東京都目黒区大岡山2-12-1）

プログラム

1．「光計測の基礎I」笹島和幸（東京工業大学）
2．「光計測の基礎II」笹島和幸（東京工業大学）
3．「光を応用した幾何学形状計測」山嵜 登志夫（三鷹光器）
4．「光干渉を応用した表面性状計測」佐藤慶一（キヤノンマーケティングジャパン）
5．「光コム技術の基礎と応用展開I」美濃島 薫（電気通信大学）
6．「光コム技術の基礎と応用展開II」美濃島 薫（電気通信大学）
7．「光コムを用いた精密計測への応用」南川丈夫（徳島大学）
8．研究室見学（東京工業大学工学院システム制御系 笹島・原研究室）
9．名刺交換会 交流会（参加費無料）

定員

50名（先着順。定員になり次第締切）

参加費

会員（賛助会員および協賛団体会員含）：17,000円，非会員：27,000円（講習会テキスト代含）学生会員：無料（講習会テキスト別途，ただし開催日当日参加の学生会員に限り2,000円で購入可）学生非会員：7,000円

締め切り

2017年7月14日（金）

申し込み方法

下記URLより申し込む。