【新刊情報】『干渉計を辿る』発売

　「干渉計を辿る 先端光学技術を支える多様な干渉計測」を発行いたしました。本書は，O plus E2015年11月号から2020年1・2月号まで連載したものを単行本としてまとめたものです。ニコンで40年にわたり干渉を利用した各種の計測器（干渉計）の開発を行うなか，著者が身に着けた，教科書には書かれていない経験やノウハウを本書でまとめています。現場の息吹が，生きた学問が感じられる，干渉を利用する光学技術者への贈り物です。

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国際画像機器展　アドコム・メディア（株）ブース【S-05】にて，
12/2（水）より販売いたします。