精密工学会 画像応用技術専門委員会 第5回定例研究会「検査・異常検知」
概要
- 日時
- 2022年1月21日（金）14：00～17：00
- 場所
- オンライン開催
- プログラム
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1．「画像処理・機械学習技術を活用した外観検査の自動化に関する課題と期待」橋本大樹（みずほリサーチ＆テクノロジーズ）
2．「ニーズの多様化する現場で創る検査事業」入谷敏充（第一実業）
3．「外観検査自動化における機械学習導入事例紹介」伊藤桂一（アダコテック）
4．「外観検査アルゴリズムコンテスト2021 開催報告」寺田賢治（徳島大学）
5．「ViEW2021ビジョン技術の実利用ワークショップ開催報告」加藤邦人（岐阜大学），西山正志（鳥取大学） - 参加費
- IAIP会員：無料，非会員：2,000円
- 申し込み方法
- 下記E-mail宛に申し込む。
