同時開催
国際画像セミナー
国際画像機器展2024に際しまして、画像処理技術の最新情報や新製品情報・技術を紹介する場として「国際画像セミナー」を開催いたします。毎回多数のご聴講者を集める人気のセミナーです。こちらは10月中旬より展示会Webサイトにて参加登録を開始いたします。
第34回三次元工学シンポジウム
今回の第34回三次元工学シンポジウムでは、三次元工学の1年の動向分析や最新技術を、第一線でご活躍されている経験豊富な講師の皆様から情報を提供いたします。
本シンポジウムは、計測技術を俯瞰し最適な測定方法を選択する一助になるとともに、今後の計測技術の展開を知る貴重な機会になると考えられます。
なお、今回は会場参加だけでなく、ZOOMでのWEB配信での参加も可能ですので奮ってご参加ください。
本シンポジウムは、計測技術を俯瞰し最適な測定方法を選択する一助になるとともに、今後の計測技術の展開を知る貴重な機会になると考えられます。
なお、今回は会場参加だけでなく、ZOOMでのWEB配信での参加も可能ですので奮ってご参加ください。
ViEW2024 ビジョン技術の実利用ワークショップ
2002年までは外観検査の自動化ワークショップとして開催してまいりました。画像応用技術の幅広い拡大と参加者の皆様のニーズにお応えするために2003年より名前と装いを新たにして開催、本年も昨年同様、ハイブリッド開催となります。一般講演はすべて現地(オンラインによるご講演はありません)、ご参加は現地またはオンラインをお選びいただけます(学生のオンライン聴講は無料です)。
IAJ-A3画像技術セミナー
日本映像処理研究会(IAJ)と米国A3(Association for Advancing Automation)との
共同開催セミナー。
A3の英語プログラムを使用し、日本語にて画像処理技術の基礎を各分野のエキスパートが丁寧に解説いたします。
※本年は最新英語プログラムに添ってアップデートされた講義内容となります。
試験合格者は、技術レベルを国際的に証明できるA3公認 CVP-Basic ロゴマークが利用可能になります。
画像処理技術における各分野の基礎知識のアップデートに、ぜひふるってご参加ください。
共同開催セミナー。
A3の英語プログラムを使用し、日本語にて画像処理技術の基礎を各分野のエキスパートが丁寧に解説いたします。
※本年は最新英語プログラムに添ってアップデートされた講義内容となります。
試験合格者は、技術レベルを国際的に証明できるA3公認 CVP-Basic ロゴマークが利用可能になります。
画像処理技術における各分野の基礎知識のアップデートに、ぜひふるってご参加ください。
第23回偏光計測研究会
偏光計測研究会は最新の研究成果のみならず、測定技術、解析技術、理論等についてのチュートリアルやレビューを開催しています。本会は、偏光計測を開発・提供している方はもとより、偏光計測をユーザーとして利用している方の技術交流の場です。今回は、偏光計測制御技術グループの委員長を務め、2024年度 応用物理学会フェロー表彰を授与された宇都宮大学 教授 大谷幸利先生に基調講演として「偏光計測から偏光イメージング」についてお話しいただきます。さらに、流体力学分野への応用からメタサーフェイスによるイメージングと広帯域な電磁場制御、そして、ナノスコピック分析などの先端研究を招待講演としてお招きします。一般講演も交えて偏光計測および制御技術の発展性について議論していきます。
会場参加だけでなく、ZOOMでのWEB配信での参加も可能ですので奮ってご参加ください。
会場参加だけでなく、ZOOMでのWEB配信での参加も可能ですので奮ってご参加ください。