集光径6 nmのX線レーザービームの精密計測に成功大阪大学，理化学研究所，高輝度光科学研究センター　研究グループ

　大阪大学，理化学研究所，高輝度光科学研究センターの研究グループは，多層膜集光鏡を用いたX線自由電子レーザーのナノ集光実験において，6 nmのX線ビームの形成を新手法で実証することに成功したと発表した。
　これまでX線自由電子レーザーを10 nm以下まで集光することは，X線鏡作製の問題だけでなく，集光ビームの計測問題のために難しく，誰も実際の集光サイズを確認できていなかった。今回，コヒーレントX線散乱により生じる干渉模様（スペックル）の形状を精密に解析することで，10 nm以下まで集光されたX線ビームの形状計測に成功した。これにより，X線自由電子レーザーの集光技術のさらなる向上が可能となる。また，集光径という基礎パラメータを正確に決定できたことで，データ解析の精度の向上が期待される。